蔡司扫描电镜原位解决方案
扫描电镜原位技术已经广泛应用于材料科学研究的各个领域，它可以将材料宏观性能与微观结构联系起来，这对研发高性能新型材料非常有帮助。但电镜原位实验从来都不是一个简单的工作，有的时候甚至还需要一些运气。为了让电镜原位实验变得更加智能高效，蔡司最新推出了扫描
热场发射扫描电子显微镜
JSM-7800F是日本电子于2011年7月推出的新一代热场发射扫描电子显微镜，具有超高分辨率和快速高精度分析的特点，束流强度大，稳定性高，特别是在低加速电压下能够获得世界高的图象分辨率。
PicoFemto（皮飞） 透射电镜电学测量样品杆
PicoFemto (皮飞)透射电镜原位电学性能测试样品杆，可搭配FEI，JOEL，日立各型号透射电镜使用。对单个纳米结构进行操控和电学测量，同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征。
德国徕卡序列断层成像解决方案ARTOS 3D
可快速获取适用于序列断层成像的高品质连续切片，使用 ARTOS 3D  超薄切片机，仅需一半时间，即可为序列断层成像获得一致、超薄的连续切片。
蔡司Crossbeam系列双束电镜（FIB-SEM）
蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。